Статьи автора

Структура и магнитные свойства тонких пленок гематита на подложках c-Al₂O₃

Номер выпуска 5 от 21.11.2025

Исследованы структурные и магнитные свойства тонких пленок гематита α-Fe₂O₃ с толщинами от 5 до 250 нм, выращенных методом магнетронного распыления на подложках c-Al₂O₃. Проанализированы изменения параметров кристаллической решетки пленок с увеличением их толщины. Экспериментально показано, что параметры кристаллической решетки в плоскости пленок и соответствующие механические напряжения, возникающие за счет разницы постоянных решеток пленки и подложки, плавно уменьшаются по мере роста толщины пленки. Экспериментально показано, что переход Морина исчезает при уменьшении толщины от 250 до 162 нм и не наблюдается для пленок с меньшей толщиной. Намагниченность непрерывно уменьшается с уменьшением толщины пленок. Выполнен ab initio расчет структурных параметров, подтверждающий важность учета дефектности структуры для адекватного описания наблюдаемых закономерностей.

0